编辑:[db:作者] 时间:2024-08-25 01:52:16
专利择要显示,本申请涉及测试技能,更详细地,涉及用于对电子设备的热插拔功能进行测试的测试装置,包括:旗子暗记开关、电源开关和掌握器;所述掌握器耦合于所述旗子暗记开关和所述电源开关,通过实行测试命令掌握所述旗子暗记开关和/或所述电源开关的闭合与断开;所述旗子暗记开关用于耦合主机和被测试的电子设备,通过所述旗子暗记开关的闭合与断开掌握主机和电子设备之间旗子暗记的连通与断开;所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备,通过所述电源开关的闭合与断开掌握主机和电子设备之间电源的连通与断开。通过本申请供应的热插拔测试装置可以在电子设备的研发及生产过程中,对其热插拔功能进行测试,考验热插拔功能是否精确。
本文源自金融界
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