宁德时代申请电子产品寿命检测专利有效缩短检测周期提高检测效率
编辑：[db:作者] 时间：2024-08-25 07:29:23
专利择要显示，本申请涉及检测领域，尤其涉及一种电子产品的寿命检测方法及终端设备。所述方法包括：获取所述电子产品对应的寿命加速系数，个中，所述寿命加速系数表示所述电子产品的理论寿命与测试时长之间的关系；根据所述电子产品的理论寿命和所述寿命加速系数打算所述电子产品的测试时长；根据所述电子产品的测试时长对所述电子产品进行检测。通过上述方法，能够有效缩短检测周期，提高检测效率。
本文源自金融界
本站所发布的文字与图片素材为非商业目的改编或整理，版权归原作者所有，如侵权或涉及违法，请联系我们删除，如需转载请保留原文地址：http://www.baanla.com/bx/177217.html
下一篇：返回列表