工信部培训：电子产品及元器件失落效分析技能与经典案例解析

各干系单位：

经由多年的发展，家电产品、消费类电子产品、通信电子产品、装备电子等传统电子行业，以及LED照明、汽车电子、智能硬件、智能表计等新兴电子行业都有巨大的技能进步。
在功能和外不雅观设计同质化的本日，产品的长期利用可靠性不仅越来越影响客户的忠实度，也直接决定了企业的售后维修本钱。

为帮助各企奇迹单位理解电子电气设备可靠性特点，节制前辈的失落效剖析手段，学习前辈的产品失落效模式和失落效掌握方法，并且通过大量的真实案例剖析，总结电子产品失落效的一样平常规律。
从而为实际事情中碰到的可靠性问题供应办理方法。
工业和信息化部电子工业标准化研究院行业管理部联合中国电子质量管理协会定于上海举办《电子产品及元器件失落效剖析技能与经典案例解析》即 《质量考验工程师》职业技能专题研讨班。
研讨结束后，可参加考察，合格者由工业和信息化部教诲与考试中央颁发《质量考验工程师》职业技能证书。
详细安排如下:

一、研讨内容

第一部分 失落效剖析技能

1、失落效剖析根本

l 可靠性事情的目的，失落效剖析的理论根本、事情思路

l 术语定义与阐明：失落效、毛病、失落效剖析、失落效模式、失落效机理、应力……

l 失落效剖析的问题来源、入手点、输出物、干系标准

2、失落效剖析技能方法

A、失落效剖析的原则

B、失落效剖析程序

l 完全的故障处理流程

l 整机和板级故障剖析技能程序

l 元器件级失落效剖析技能程序（事情过程和详细的方法手段先容）

C、失落效信息网络的方法与详细事情内容

l 如何确定失落效信息网络的关注点

l 样品信息须要包括的内容

l 失落效现场外部信息的内容

l 信息网络表格示例

l 信息网络为后面技能剖析事情贡献的示例

D、外不雅观检讨

l 外不雅观检讨该当关注的哪些方面

l 外不雅观检讨创造问题示例

l 外不雅观检讨的仪器设备工具

E、电学测试

l 如何用电测验证失落效模式和预判失落效机理

l 电测的详细方法

l 几种范例电测结果的机理解析

l 电测时复现间歇性失落效征象的示例

l 在电测中如何利用外部应力与失落效机理的关联

l 电测的常用仪器设备

F、X－RAY

l X-RAY的事情事理与设备技能指标

l 不同材料的不透明度比较

l X-RAY的用场

l X-RAY在失落效剖析中的示例

l X-RAY的优缺陷

l X-RAY与C-SAM的比较

G、C-SAM

l C-SAM的事情事理与设备技能指标

l C-SAM的特点与用场

l C-SAM、X-RAY在失落效剖析中联合应证的利用示例

l C-SAM的优缺陷

H、密封器件物理剖析

l PIND先容

l 气密性剖析先容

l 内部气氛剖析先容

I、开封制样

l 化学开封的方法、设备、技能要点先容

l 化学开封创造器件内部失落效点的示例

l 切片制样的详细方法与步骤

l 切片制样创造器件和焊点内部失落效点的示例

J、芯片剥层

l 化学堕落法去除钝化层的详细方法，及其特点与风险

l 等离子堕落去除钝化层的详细方法，及其特点与风险

l 堕落钝化层后样品不雅观察区的描述示例

l 去除金属化层的详细方法与示例

K、失落效定位－SEM

l SEM的事情事理与设备特点

l 光学显微镜与SEM的性能比较

l 光学显微镜与SEM详细成像差异示例

L、失落效定位－成份剖析

l 成份剖析中的技能关注点履历

l EDS、AES、XPS、SIMS、FTIR等成份剖析仪器的用法比较

l 成份剖析在器件内部分析中的浸染示例

M、内部热剖析－红外热相

N、内部泄电剖析－EMMI

O、芯片内部线路验证－FIB

P、综合剖析与结论

l 综合剖析中的逻辑思维能力

l 结论的特点与精确利用

Q、验证与改进建议

l 根本缘故原由排查与验证

l 改进建议及效果跟踪

第二部分 各种失落效机理的归纳讲解与相应案例剖析

1、失落效剖析全过程案例

A、失落效信息网络与剖析 B、思路剖析

C、过程方法 D、逻辑推导

E、试验手段 F、综合剖析

G、结论与建议2、静电放电失落效机理讲解与案例剖析

A、静电损伤的事理 B、静电损伤的三种模型讲解

C、静电损伤的路子 D、静电放电的失落效模式

E、静电放电的失落效机理 F、静电危害的特点

G、静电损伤的案例（比较器、单片机、微波器件、发光管、功率管）3、闩锁失落效机理讲解与案例剖析

A、闩锁破坏器件的事理 B、闩锁破坏器件的特色

C、闩锁破坏器件的案例（开关器件、驱动器件等）

D、闩锁与端口短路的比较 E、CMOS电路引起闩锁的外部条件

F、静电与闩锁的保护设计

4、过电失落效类失落效机理讲解与案例剖析

A、过电的类型及特点（浪涌、过电压、过电流、过功率等）

B、对应不同类型的过电的失落效案例

5、机器应力类失落效机理讲解与案例剖析

A、机器应力常见的损伤类型

6、热变应力类失落效机理讲解与案例剖析

A、热变应力损伤的类型和特色

7、构造毛病类失落效机理讲解与案例剖析

A、热构造毛病的类型和特色 B、创造毛病的技能手段8、材料毛病类失落效机理讲解与案例剖析

A、绕线材料毛病 B、钝化材料毛病

C、引线材料毛病 D、簧片材料毛病9、工艺毛病类失落效机理讲解与案例剖析

A、工艺毛病的类型和紧张特色，创造手段

10、运用设计毛病类失落效机理讲解与案例剖析

11、污染堕落类失落效机理讲解与案例剖析

A、污染的来源与类型，堕落的紧张事理

12、元器件固有机理类失落效机理讲解与案例剖析

A、不同类型的元器件固有失落效机理的归纳

13、面孔全非的样品的剖析

二、韶光地点

2020年1月10日-12日 上海 （10日全天报到）

三、参加工具

各企奇迹单位从事与电子电气产品、元器件干系的事情职员（电子电气检测实验室事情职员、产品研发、品质管理、供应商管理、元器件认定、安全监督、可靠性、工艺师、质量考验、测试、采购、进货考验技能主管、失落效剖析技能职员等）；各大、专院校、职业技能学院等电子专业干系职员；利用干系仪器和测试对半导体器件、光电子器件、电真空器件、机电元件、通用元件及特种元件进行质量考验的职员。

四、证书颁发

研讨结束后，可参加考试，，考试合格者由工业和信息化部教诲与考试中央统一颁发《质量考验工程师》职业技能证书。

五、研讨用度

3600元/人，食宿统一安排，用度自理。

六、报名须知

工业和信息化部电子工业标准化研究院

培训中央