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专利择要显示,本发明公开了一种模板的天生方法及灰度校正方法、装置和异物检测机,所述方法包括:X光成像系统对预设的校正模体进行扫描成像,得到模体图像;针对X光成像系统中的每个传感器,确定该传感器在模体图像上对应的灰度值和相应灰度值在预设的校正模体上对应的厚度;根据预存的第一映射关系、各传感器对应的厚度,得到各传感器对应的目标校正值;根据各传感器对应的灰度值和目标校正值得到各传感器对应的白平衡校正系数;根据各传感器对应的灰度值和白平衡校正系数得到新的白平衡校正模板。利用校正模板进行灰度校正,韶光短、效率高,并且采取和待检测物体密度相同或附近的校正模体,得到校正系数的能谱和实际利用的能谱差异较小,校正效果更好。
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