导致元器件失落效的原因有哪些？

1、温度导致失落效：

1.1 环境温度是导致元件失落效的主要成分。

温度变革对半导体器件的影响：构成双极型半导体器件的基本单元 P-N 结对温度的变革很敏感，当 P-N 结反向偏置时，由少数载流子形成的反向泄电流受温度的变革影响，其关系为：

式中：ICQ―――温度 T0C 时的反向泄电流

ICQR――温度 TR℃时的反向泄电流

T－TR――温度变革的绝对值

由上式可以看出，温度每升高 10℃，ICQ 将增加一倍。
这将造成晶体管放大器的事情点发生漂移、晶体管电流放大系数发生变革、特性曲线发生变革，动态范围变小。

温度与许可功耗的关系如下：

式中：PCM―――最大许可功耗

TjM―――最高许可结温

T――――利用环境温度

RT―――热阻

由上式可以看出，温度的升高将使晶体管的最大许可功耗低落。

由于 P-N 结的正向压降受温度的影响较大，以是用 P-N 为基本单元构成的双极型半导体逻辑元件（TTL、HTL 等集成电路）的电压传输特性和抗滋扰度也与温度有密切的关系。
当温度升高时，P-N 结的正向压降减小，其开门和关门电平都将减小，这就使得元件的低电平抗滋扰电压容限随温度的升高而变小；高电平抗滋扰电压容限随温度的升高而增大，造成输出电平偏移、波形失落真、稳态失落调，乃至热击穿。

2.1 温度变革对电阻的影响

温度变革对电阻的影响紧张是温度升高时，电阻的热噪声增加，阻值偏离标称值，许可耗散概率低落等。
比如，RXT 系列的碳膜电阻在温度升高到 100℃时，许可的耗散概率仅为标称值的 20％。

但我们也可以利用电阻的这一特性，比如，有经由分外设计的一类电阻：PTC（正温度系数热敏电阻）和 NTC（负温度系数热敏电阻），它们的阻值受温度的影响很大。

对付 PTC，当其温度升高到某一阈值时，其电阻值会急剧增大。
利用这一特性，可将其用在电路板的过流保护电路中，当由于某种故障造成通过它的电流增加到其阈值电流后，PTC 的温度急剧升高，同时，其电阻值变大，限定通过它的电流，达到对电路的保护。
而故障打消后，通过它的电流减小，PTC 的温度规复正常，同时，其电阻值也规复到其正常值。

对付 NTC，它的特点是其电阻值随温度的升高而减小。

2.2 温度变革对电容的影响

温度变革将引起电容的到介质损耗变革，从而影响其利用寿命。
温度每升高 10℃时，电容器的寿命就降落 50％，同时还引起阻容韶光常数变革，乃至发生因介质损耗过大而热击穿的情形。

此外，温度升高也将使电感线圈、变压器、扼流圈等的绝缘性能低落。

3、湿度导致失落效

湿度过高，当含有酸碱性的灰尘落到电路板上时，将堕落元器件的焊点与接线处，造成焊点脱落，接头断裂。

湿度过高也是引起泄电耦合的紧张缘故原由。

而湿度过低又随意马虎产生静电，以是环境的湿度应掌握在合理的水平。

4、过高电压导致器件失落效

施加在元器件上的电压稳定性是担保元器件正常事情的主要条件。
过高的电压会增加元器件的热损耗，乃至造成电击穿。
对付电容器而言，其失落效率正比于电容电压的 5 次幂。
对付集成电路而言，超过其最大许可电压值的电压将造成器件的直接破坏。

电压击穿是指电子器件都有能承受的最高耐压值，超过该许可值，器件存在失落效风险。
主动元件和被动元件失落效的表现形式稍有差别，但也都有电压许可上限。
晶体管元件都有耐压值，超过耐压值会对元件有损伤，比如超过二极管、电容等，电压超过元件的耐压值会导致它们击穿，如果能量很大会导致热击穿，元件会报废。

5、振动、冲击影响：

机器振动与冲击会使一些内部有缺陷的元件加速失落效，造成灾害性故障，机器振动还会使焊点、压线点发生松动，导致打仗不良；若振动导致导线不应有的碰连，会产生一些意象不到的后果。

可能引起的故障模式，及失落效剖析。

电气过应力（Electrical Over Stress，EOS）是一种常见的危害电子器件的办法，是元器件常见的破坏缘故原由，其表现办法是过压或者过流产生大量的热能，使元器件内部温度过高从而破坏元器件（大家常说的烧坏），是由电气系统中的脉冲导致的一种常见的危害电子器件的办法。