编辑:[db:作者] 时间:2024-08-24 23:05:42
专利择要显示,本发明公开了一种电子产品老化测试系统及装置。个中,该系统包括:电源,其用于给待测试电子产品进行供电;电量花费模块,其用于花费所述待测试电子产品的电量,以使所述待测试电子产品进入老化测试;电量计模块,其用于计量所述待测试电子产品进行老化测试所利用的电量信息;掌握设备,其用于获取所述电量计模块计量的所述电量信息,并根据所述电量信息天生老化测试结果。
本发明先通过电量计模块计量待测试电子产品进行老化测试所利用的电量信息,再通过掌握设备根据电量信息天生测试结果,全体老化测试过程,须要人工参与,避免了漏测误测问题,提高了老化测试效率和测试准确度。本文源自金融界
本站所发布的文字与图片素材为非商业目的改编或整理,版权归原作者所有,如侵权或涉及违法,请联系我们删除,如需转载请保留原文地址:http://www.baanla.com/lz/zxbj/19350.html
下一篇:返回列表
Copyright 2005-20203 www.baidu.com 版权所有 | 琼ICP备2023011765号-4 | 统计代码
声明:本站所有内容均只可用于学习参考,信息与图片素材来源于互联网,如内容侵权与违规,请与本站联系,将在三个工作日内处理,联系邮箱:123456789@qq.com