测试中出现的失落效率和平均故障距离时间

可靠性可以描述为在一定韶光内估量失落效的次数。
比如失落效率( failure rate)，用FR表示(失落效次数每 10h 或者失落效次数每109)，但是也有许多通过电子设备来描述失落效率的统计分布。

一种盛行做法是用指数函数，它类似统计一些特定元件类型的寿命磨损期，不考虑早期失落效，并且在事情环境中有一个恒定的失落效率FR。
如果我们把失落效率FR 反推，得到其余一个表达意义: 每次估量发生失落效的均匀间隔韶光，缩写成MTBF( mean time between failure 。
关于失落效率FR的观点、MTBF、元件寿命，这里大概存在误解，特殊是当1/FR为MTBF极大值时。
如果我们表示概率函数为R(t)，当FR=1/MTBF时，我们可以写成如下等式：

如果公式里的韶光即是MTBF，我们得到一个概率函数是: R(t)=l/e(0.37)，在MTBF期间只有 37%的概率功能是完美无缺的。

2.测试中涌现的失落效率

电子产品越是前辈，那么在产品中元件的数量就越多，同时在利用元件的过程中对不同类型元件的估量失落效率的理解显得越加主要。
只有这样我们才能预估我们产品的可靠性，同时把它跟担保承诺联系起来。

系统或者设备的失落效率FR(failure rate)是产品中各个不同元件失落效率的总和，即∑Niℷi，N指数量，i指特定类型。

元件失落效率可以通过寿命测试检测，但是结果要承担昂贵的测试本钱，这些检测只有厂家自己N指数量，i指特定类型。
才可以实行。
这些通过厂家自己针对元件建立测试项目及其条件的可靠性，被称作既设可靠性 ER

established reliability )这个根本是由数百个元件的寿命测试数据组成，这些测试花费的韶光超过数万小时。
在测试的过程中产品的数量乘以小时数累计达数百万小时。
如果失落效率的数字坚持在许可的限定内，那么元件将依次知足越来越高的可靠性水平，它有 60%或者 90%的置信系数。

可靠性用每 1000h 失落效率百分最近表达，代码为ℷ。
各种各样的失落效率标准列举如下

M(ℷ=1%/1 000h);

P(ℷ=0.1%/1 000h);

R(ℷ=0.01%/1 000h);

S (ℷ=0.001%/1 000h)

上面的失落效率用%/1000h 表达，也用其余一个表达办法“FIT”( Failure unit)，它表示意义为:每10 失落效数量，1FIT=1x10-h,转换成MIL 标准是 1FIT=1X10-7%/h= 1x10-4%/1 000h=0.000 1%/1 000h。

表示失落效率FR 的符号 M、P、R、S 相称于用来作为扩展寿命测试的剖断标准