电子产品若何进行靠得住性试验？

电子产品的可靠性试验先容

为了评价剖析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。
试验目的常日有如下几方面：

1、在研制阶段用以暴露试制产品各方面的毛病，评价产品可靠性达到预定指标的情形。

2、生产阶段为监控生产过程供应信息。

3、对定型产品进行可靠性鉴定或验收。

4、暴露和剖析产品在不同环境和应力条件下的失落效规律及有关的失落效模式和失落效机理。

5、为改进产品可靠性，制订和改进可靠性试验方案，为用户选用产品供应依据。

对付不同的产品，为了达到不同的目的，可以选择不同的可靠性试验方法。
可靠性试验有多种分类方法，如以环境条件来划分，可分为包括各种应力条件下的仿照试验和现场试验。
以试验项目划分，可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种分外试验。
若按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验。
若按试验性子来划分，也可分为毁坏性试验和非毁坏性试验两大类。
但常日惯用的分类法，是把它归纳为五大类，即环境试验、寿命试验、筛选试验、现场利用试验和鉴定试验。

1、环境试验是考察产品在各种环境（振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等）条件下的适应能力，是评价产品可靠性的主要试验方法之一。

2、寿命试验是研究产品寿命特色的方法，这种方法可在实验室仿照各种利用条件来进行。
寿命试验是可靠性试验中zui主要zui基本的项目之一，它是将产品放在特定的试验条件下稽核其失落效（破坏）随韶光变革规律。
通过寿命试验，可以理解产品的寿命特色、失落效规律、失落效率、均匀寿命以及在寿命试验过程中可能涌现的各种失落效模式。
如结合失落效剖析，可进一步弄清导致产品失落效的紧张失落效机理，作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行（批量担保）试验条件等的依据。
如果为了缩短试验韶光可在不改变失落效机理的条件下用加大应力的方法进行试验，这便是加速寿命试验。
通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。

3、筛选试验是一种对产品进行全数考验的非毁坏性试验。
其目的是为选择具有一定特性的产品或剔早期失落效的产品，以提高产品的利用可靠性。
产品在制造过程中，由于材料的毛病，或由于工艺失落控，使部分产品涌现所谓早期毛病或故障，这些毛病或故障若能及早剔除，就可以担保在实际利用时产品的可靠性水平。

可靠性筛选试验的特点是：

1、这种试验不是抽样的，而是100%试验。

2、该试验可以提高合格品的总的可靠性水平，但不能提高产品的固有可靠性，即不能提高每个产品的寿命。

3、不能大略地以筛选淘汰率的高低来评价筛选效果。
淘汰率高，有可能是产品本身的设计、元件、工艺等方面存在严重毛病，但也有可能是筛选应力强度太高。
淘汰率低，有可能产品毛病少，但也可能是筛选应力的强度和试验韶光不敷造成的。

常日以筛选淘汰率Q和筛选效果值来评价筛选方法的利害：合理的筛选方法该当是值较大，而Q值适中。

上述各种试验都是通过仿照现场条件来进行的。
仿照试验由于受设备条件的限定，每每只能对产品施加单一应力，有时也可以施加双应力，这与实际利用环境条件有很大差异，因而未能如实地、全面地暴露产品的质量情形。
现场利用试验则不同，由于它是在利用现场进行，故zui能真实地反响产品的可靠性问题，所得到的数据对付产品的可靠性预测、设计和担保有很高代价。
对制订可靠性试验操持、验证可靠性试验方法和评价试验性，现场利用试验的浸染则更大。

鉴定试验是对产品的可靠性水平进行评价时而做的试验。
它是根据抽样理论制订出来的抽样方案。
在担保生产者不致使质量符合标准的产品被拒收的条件下进行鉴定试验。

可靠性试验方法：

电子产品的可靠性试验方法有多种，下面先容几种常用的方法。

第一种方法是“试验——问题记录——再试验"模式。
该方法便是把初步研制的产品，通过试验创造问题时，不是立即进行改进，而是把问题记录下来，待在一个试验阶段结束以及下一个阶段开始之前，根据各种失落效模式的失落效机理，集中地进行改进，然后再进行试验。
采取这种试验法，产品可靠性将有较大的跃进。
这种试验法，比较适用于一批试验机中，涌现几个问题，个中一种问题是占紧张地位而别的问题是次要的情形。

第二种方法是“试验——改进——再试验"模式。
该方法便是把初步研制的产品，通过试验，暴露产品的薄弱环节，剖析产品的失落效模式和失落效机理，找出问题就立即改进，然后再试验证明所办理的问题，使产品的可靠性得到增长。
这种方法在电子产品的研制阶段，通过系统试验，暴露出产品薄弱环节之后，根据详细情形，立即进行必要的改进是能够使产品的可靠性有大幅度的增长，这种方法比较适用于试验中只涌现一种比较普遍和严重问题的情形，针对性较强。

第三种方法是“含延缓改进的试验——改进——再试验"模式。
该方法是将方法一和方法二结合起来，通过试验创造了产品的问题，有些改进在试验中理解产品的问题，有些改进在试验中立即动手进行，有些延缓到试验结束后再作改进。
在试验中，对能及时改进的问题，立即采纳方法改进产品，提高可靠性，在试验阶段结束后，把延缓的问题至下次试验开始提高行改进，然后再进行试验，使产品的可靠性得到较大的增长。
这种方法比较适宜于试验中涌现几种问题，并且一些问题能短期随意马虎改进的，另一些问题却须要相称一段韶光才能改进的综合情形。

对付以上所述的三种方法，电子产品在研制阶段中，经由系统的试验，要根据暴露出的问题作详细剖析，灵巧运用。
可靠性试验中常用的三种方法每每是周而复始地循环，并且一个循环比一个循环产品的可靠性水平向上增长，其余可靠性试验除通过系统试验外，还应根据详细情形通过景象环境试验、机器环境试验和人为正常利用等各方面的试验来暴露产品生产的薄弱环节，进行综合的科学剖析，做相应的改进，使得电子产品在设计研制阶段对其固有可靠性有进一步的提高。

总结

电子产品的可靠性十分主要，是产品质量的紧张指标。
我国电子仪器的可靠性试验遵照的标准是GB11463《电子丈量仪器可靠性试验》，一样平常产品在鉴定时的可靠性指标是300H，如果按常用的定时截尾试验方案进行可靠性考察，总的试验韶光要达到10000H旁边。
由于电子产品在设计研制阶段经历了反复多次的“试验——剖析——改进——再试验"的可靠性增长试验过程。
在这个过程中，由于采纳了改进设计及工艺方法等一系列方法来肃清失落效，使失落效的发生逐渐减少，而可靠性得以增长。
我国的一些电子产品的可靠性指标比较国际前辈标准还有差距，因此必须对国内外干系标准进行充分研究，真正从产品方案的论证、设计、生产、试验和利用全过程中对可靠性水平作出准确的评价，从而大大提高我国电子产品的可靠性水平，使产品质量达到天下前辈水平。