低温试验对电子元器件的影响有哪些？

低温试验概述

低温试验是用来确定元器件、设备或其他产品在低温环境条件下的利用、运输或存储能力。

随着科学技能不断发展，对产品的哀求不断提高，电子产品低温事情的质量与可靠性指标备受关注。
低温试验用于考察或确定产品在低温环境条件下存储和（或）利用的适应性，不用于评价产品在温度变革期间的耐抗性和事情能力。
在产品开拓阶段、元器件的筛选阶段可通过低温试验来考察产品。

低温对产品的影响紧张表现在以下几个方面：

（1）橡胶等柔韧性材料的弹性降落，并产生分裂，如热缩管的低温试验；（2）金属和塑料脆性增大，导致分裂或产生裂纹，如金属封装外壳的低温试验；（3）由于材料的紧缩系数不同，在温变率较大时，会引起活动部位卡去世或迁徙改变不灵，如电连接器的低温试验；（4）润滑剂黏性增大或凝固，活动部件之间摩擦力增大、引起动作滞缓，乃至停滞事情；（5）电子元器件电参数漂移，影响产品的电性能，如集成电路三温测试中的低温测试；（6）结冰或结霜引起产品构造毁坏或受潮等。
低温试验条件的设定由电子元器件产品设计和利用的环境条件决定，产品哀求在怎么样的环境温度下利用，试验室就该当采取相应的温度条件来对其进行适应性试验考察，因此，试验条件与环境条件相同等而不抵牾。
根据标准规定，电子元器件、仪器、仪表基本环境试验标准，温度下限为 0℃、-10℃、-25℃、-40℃等几档，根据调查和网络到的资料，我国境内气候站测得的最低温度为-51℃，大兴安岭地区曾经测得最低温度为-62℃，因此，增加了-55℃、-65℃等几档。
随着电子元器件的进一步发展，一些连接器、线缆组件须要承受-100℃的超低温冲击情形，在特定条件下，须要增加-100℃或-110℃的超低温试验条件。
在此严厉条件下，对电子元器件的考察是严厉的。
对付试验保持韶光，国际标准将低温试验的持续韶光定为 2h、16h、72h、96h 四种，这紧张是从电子元器件产品利用环境出发考虑的，为西欧、日本等国所采取。
但美国军用标准普遍采取保持24h或72h两种。
我国军用标准提出按产品重量来确定试验韶光。
低温试验保持韶光的是非，应取决于该产品在某一低温条件下担保内部冻透，即内部温度达到与试验条件相平衡（偏差小于 3℃），而不一定须要延长试验韶光（对延长试验韶光是否有影响也进行过一些试验验证），由于低温下的浸染结果不像高温时的“热老化”浸染有“积累”意义。
因此，保持韶光只要能使样品冻透，有足够韶光使材料受温度影响而产生紧缩变形就可以了。

低温试验技能和方法1.试验目的低温试验用于考察产品在低温环境条件下存储和利用的适应性，常用于产品在开拓阶段的型式试验和元器件的筛选试验。
2.试验条件按照国标GB 2423.1—2008规定如下：（1）非散热试验样品低温试验Ab：温度渐变。
（2）散热试验样品低温试验Ad：温度渐变。
试验的严厉程度由温度和持续韶光确定。
温度：-65℃；-55℃；-40℃；-25℃；-10℃；-5℃；+5℃。
试验温度的许可偏差均为3℃。
持续韶光：2h；16h；72h；96h。
3.试验程序试验Ab：非散热试验样品温度渐变的低温试验，用以确定非散热的电子电工产品（包括元件、设备或其他产品）低温下存储和利用的适应性。
将处于室温的试验样品，按正常位置放入试验箱内，开动冷源，使试验箱温度从室温降落到规定试验温度并使试验样品达到温度稳定。
箱内温度变革速率为不大于 1℃/min（不超过5min韶光的均匀值）。
试验Ad：散热试验样品温度渐变的低温试验，确定散热电子电工产品（包括元器件、设备或其他产品）低温条件下利用的适应性。
4.有关技能和设备哀求（1）有关技能。
若试验的目的仅仅是检讨试验样品在低温时能否正常事情，则试验的韶光只限于使试验样品温度达到稳定即可；若作为与低温耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则实在验所需的持续韶光按有关标准规定。
试验时要把稳区分两类试验样品：无人工冷却的试验样品和有人工冷却的试验样品。
无人工冷却的试验样品分为无强制空气循环的试验和有强制空气循环的试验，无强制空气循环的试验，是仿照自由空气条件影响的一种试验方法。
有强制空气循环的试验，有两种方法。
方法 A 适用于试验箱足够大，不用强制空气循环也可知足试验哀求，但仅能借助空气循环才能保持箱内的环境温度。
方法B用于方法A不能运用的场合，例如，用作试验的试验箱体积太小，当无强制空气循环就不能符合试验哀求的场合。
有人工冷却的试验样品，一样平常可按无强制空气循环方法进行试验。
这三项低温试验对付试验样品的事情性能试验，必须按有关标准规定对试验样品给予通电或电气负载，并检讨确定能否达到规定的功能。
按哀求施加规定的试验条件前，应对样品进行外不雅观及电气和机器性能的初始检测，然后按有关标准的规定在试验期间或结束时加负载和进行中间检测，检测时试验样品不应从试验箱中取出。
按照规定哀求进行规复，末了对样品进行外不雅观及电气和机器性能的检测。
（2）试验设备哀求。
试验箱应能够在试验事情空间内保持规定的温度条件，可以采取强制空气循环来保持温度均匀。
为了限定辐射影响，试验箱内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过 8%（按开尔文温度计），且试验样品不应受到不符合上述哀求的任何加热与冷却元器件的直接辐射。