某台资公司电子零组件检测中央对失落效分析实验大年夜纲

某台资公司电子零组件检测中央失落效剖析实验室分为外不雅观检测实验室、IC电特性剖析实验室、光学实验室、无损检测实验室、元素身分剖析实验室及可靠性测尝尝验室。

在产品运用中，常见的IC失落效模式有以下几种：

电特性测试常日运用于失落效剖析初步阶段，目的是通过节制样品电参数或功能失落效状况，方便为进一步剖析作准备。

不雅观察量测目的是通过不雅观察IC外部/内部外不雅观&构造，确认IC非常位置及详细状况。
该类测试一样平常与DPA(即毁坏性物理剖析)结合利用。

DPA属毁坏性测试，目的是通过液体侵蚀、机器毁坏、激光切割等毁坏办法，对IC内部详细失落效位置进行定位及呈现。

可靠度测试是通过利用各种环境试验设备，仿照景象环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变革等情形，验证IC寿命及性能稳定性。