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宁德时代申请夹针位置偏移的检测方法、装配、电子设备及存储介质专利有助于降低电芯内圈极片出现形变的概率提高了电芯的产品合格率

编辑:[db:作者] 时间:2024-08-25 05:56:12

专利择要显示,本申请公开了一种夹针位置偏移的检测方法、装置、电子设备及存储介质。

宁德时代申请夹针位置偏移的检测方法、装配、电子设备及存储介质专利有助于降低电芯内圈极片出现形变的概率提高了电芯的产品合格率

该方法包括:相应于吸收到第一夹针的反射旗子暗记,获取电机的编码器输出的第一编码值;反射旗子暗记是第一光学传感器所发射的光芒被第一夹针所反射而产生的;电机用于掌握夹针对的运动;第一夹针为夹针对中的任一夹针;根据至少一个夹针中每一夹针所对应的第一编码值以及每一夹针所对应的预获取的标准编码值判断是否发生夹针位置偏移,从而能及时准确地检测到电芯卷绕工序中是否发生夹针位置偏移,有助于在发生夹针位置偏移的情形下使干系职员及时获知发生夹针位置偏移事宜以便及时采纳处理方法,降落了由于夹针位置偏移而导致电芯内圈极片涌现形变的概率,提高了电芯的产品合格率。

本文源自金融界

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