固态通例评测与高温老化测试筹划以建兴睿速T9分析

最近看了很多的固态测试。

笔者也做了一些大略的整理，摸索出了固态测试的一些常规和非常规，正巧年前入手一枚最近曝光很多的建兴睿速T9，以此为例进行一些整理。
先晒一下产品照片：

建兴(LITEON) 睿速系列 T9 128G SATA3 固态硬盘

对付一样平常的用户，粗略的测试固态利用以下两款软件就可以了：

一、AS SSD Benchmark：检测AHCI和Trim （SSD固态硬盘速率检测工具）

实质是一款SSD性能测试软件。
通过跑分，并和正常数据比拟，我们也能够判断SSD是否运行在正常状态下。

以T9为例：

1、Seq（连续读写）：即持续测试，AS SSD会先以16MB的尺寸为单位，持续向受测分区写入，天生1个达到1GB大小的文件，然后再以同样的单位尺寸读取这个文件，末了打算橱均匀成绩，给出结果。
测试完毕会急速删除测试文件；

2、4K（4k单行列步队深度）：即随机单行列步队深度测试，测试软件以512KB的单位尺寸，天生1GB大小的测试文件，然后在其地址范围（LBA）内进行随机4KB单位尺寸进行写入和读取测试，直到跑遍这个范围为止，末了打算均匀成绩给出结果。
由于有天生步骤，本测试对硬盘会产生一共2GB的数据写入量，测试完毕之后文件会暂时保留；

3、4K-64Thrd（4k 64行列步队深度）：即随机64行列步队深度测试，软件会天生64个16MB大小的测试文件（共计1GB），然后同时以4KB的单位尺寸，同时在这64个文件中进行写入和读取，末了以均匀成绩为结果，产生2GB的数据写入量。
测试完毕之后会急速删除测试的文件；

4、Acc.time（访问韶光）：即数据存取韶光测试，以4KB为单位尺寸随机读取通盘地址范围（LBA），以512B为写入单位尺寸，随机写入保留的1GB地址范围内，末了以均匀成绩给出测试结果。

5、左上角部分以判断固态是否安装正常：ahci是否OK，下面的数字是否为1024的倍数。

二、CrystalDiskInfo：检测SSD信息

CystalDiskInfo通过读取S.M.A.R.T来判断硬盘的康健状态，我们可以通过CrystalDiskInfo查看SSD的通电韶光、Trim支持、P/E次数等特性。
每一个品牌对付CDI的设定都不同。
这里以T9大略举例一下。
建兴的SMART读取是非常封闭的，总结了一些规律：上方会是一些固态的常见信息：如康健度、温度、固件版本、通电情形等。

传输模式：我特地将固态插到SATA2下給大家看到一些差异，这里我们会看到两个值，SATA/300和SATA/600。
口语说，前者为你的接口，如SATA/300代表你的固态插到了SATA2接口上，而后者为你的固态所支持的接口，一样平常现在都是SATA3.

B1:这里是一个磨损技能，如果是建兴T9新版的固件，每掉1个值，就代表你花费了100个PE（值得把稳的是，100-99时实在是不敷100个pe的，以是会比较快）

C7:如果C7发生缺点，或数值一贯在长，一样平常代表你的数据线或接口有问题。

F1:这里可以大略打算固态的写入，建兴的打算为数值＊32/1024为你实际写入值。

由于建兴对外宣扬利用原厂eMLC颗粒，达到10000次PE。
可近日有媒体测试填盘6500次PE后，做高温老化测试（操持测试85度360小时，测试到24小时为一个阶段）发生掉盘。
这引发了笔者的兴趣，由于高温老化测试非一样平常用户可以进行（受限于设备、测试方案），本其实事求是的态度，笔者查阅了一些文献，制作了一版固态高温老化测试方案。

注：常规的用户测试受限于设备、专业度一定会存在偏差，本文作抛砖引玉固态的高温老化测试，需基于JESD(固态半导体工业可靠性标准)。

在JESD47中，有如下表格：

写到”Cycles per NVCE”，我们大略做一下翻译：如果须要做HTDR(dataretention)之前，须要先完成相对应的NVCE(endurance)测试，换句话说，HTDR的测试温度与韶光跟NVCE。
在什么温度下测试是有干系联的。

即固态在如果须要知足在125度下高温老化测试10个小时（相称于55度下存放一年，85度下存放360小时），一定要搭配NVCE 85C + 各特地的 delay time才行。
在原文中有这样的记叙：

实在这样的测试对付普通用户是无法进行的。
我取用了媒体测试中的几张图：

经由上文的遍及，大家已经可以看到NVCE测试温度为50度（实在不是恒温也是不严谨的，文中提到最高超过55度）。
这该当是比较符合民间测试的一个测试环境，那么此处该当利用的标准为？我们连续看JESD标准：该当是要根据 JESD218A 的测试办法，66C 96hrs / 52C500hrs，而不是85C 360hrs。

严格提及來，实在如上面媒体的测试环境，连endurance 测试的办法也不是完备follow JESD218A 的测试办法。
不过JESD218这已经是最为准确也最靠近常规测试环境的标准（如一贯在说的，民用级别无法完备达到工业的测试标准）。

基于以上的文献背景，我们创造高温老化测试是一个须要严格变量掌握的测试，也有自己的测试准则，我们开始制订固态的高温老化测试方案：

首先我们须要进行填盘测试：

我们可以通过Anvil's Storage Utilities的Endurance test耐久性测试功能进行。
该功能可以连续不断地对SSD进行写入，并记录、显示已对SSD统共写入了多少数据量、每小时、每天写入的数据量等详细信息。
然后进行高温老化部分，企业级和消费级的消费级在标准上是有一定差异的，我大略注释了一下JESD 218的方案：

由于T9利用的为eMLC颗粒，以是选用企业级的标准，推算40度下存放3个月在高温下所对应的韶光。

T9 系列的资料保存定义为40C保存3个月，所以为2160小时，其余，从JDEC Spec.中可得到SSD老化的AF(AccelerationFactor)，因此可以换算假设在55C时，Data Retention为340小時，假设在85C时，则Data Retention为13小时。
AF推算公式：

备注：同时，我也推算了消费级的温度表：

综上，我们得出的方案为：

三、选用的老化工具：

对付一样平常用户，很难利用到工业级别的恒温烤箱：

网上有一些不严谨示范：如利用开放式恒温台（无法担保受热均匀及打消环境温度影响）

笔者也在网上查找了一下：选取了这一款电容恒热干燥箱

光合电热恒温干燥箱实验室烘箱冷胶工业烤箱汽车大灯烘箱恒温鼓风...

这类烤箱一样平常会分为电热丝和电热管：

我大略做了一张表格来差异：

一样平常200度以内的测试，会选用电热丝，由于固态高温老化测试多利用60-85度（极度125度），以是我们选用电热丝的即可，也比较便宜。

综上，完成填盘、高温老化测试之后，重新上机利用我们最初说的两种入门工具查看固态信息和掉速情形，即可完成一次“民用级”的高温老化测试。

末了做个小结，固态硬盘作为近几年增长速率最快的电脑硬件，确实比之前HDD更值得玩味，而用户对付固态的研究也逐步从最初的开箱跑分到现在的老化测试，确实数据是无价的。
不过任何的测试，都须要基于严格的准则，严谨的实行方案，这样才能做到真正的对症下药。
以此文和电脑硬件的爱好者共勉。