QC小百科电子元器件检测中的开盖检测

我们又见面了。
本日要给大家先容的是电子元器件检测中的开盖检测。

开盖检测也叫“Decap”，指的是通过去除电子元件的保护性包装或外壳，以暴露其内部构造进行剖析和检讨的过程。
该检测的目的是为了验证包装完全性、真实性和内部构造，确保电子元件的质量和可靠性并识别潜在问题或假造品。
用一句歌词来说便是：

如果你乐意一层一层一层地剥开我的芯，你会创造：你会讶异：我是你最想要最喜好的正？怎么还给我改编了？

接下来来说说开盖的办法，你知道有哪些吗？我知道，答案是：庸俗！

第一种：机器开盖。
指的是依赖研磨或切割工具来去除外壳。
视频中的非实际开盖片段是为了方便理解。

第二种：化学开盖。
利用特定的化学物质来溶解外壳材料，上风是不会对封装内的芯片造成物理破坏，便于不雅观察晶圆的内部构造。
这也是我们公司目前利用的开盖办法。

第三种：激光烧蚀。
利用激光来小心地去除外壳的各层。

第四种：等离子蚀刻。
利用气体风雅地蚀刻掉外壳层。

第五种：热开盖。
采取受控热量来软化外壳材料以进行去除。
以上讲述到的便是行业中常见的几种开盖办法。
值得把稳的是，与X-Ray检测的不同，开盖检测常日是毁坏性过程，这意味着一旦外壳被移除，芯片就无法恢复原样。
不过开盖带来的代价常日就远超于产品本身，以是实行开盖了，它便是值得的。

总之，开盖检测是打开电子元件内部天下之门的主要办法，是剖析故障、确保质量和识别假冒的不可替代的工具。
感谢您的不雅观看！
如果您对电子元器件检测还有更多问题或者想要分享您的意见，欢迎在评论区评论，我们下次再见。
创实技能。
未完待续。
to be continued！