编辑:[db:作者] 时间:2024-08-25 02:43:18
导语
高温运行试验(High teperature operating endurance,HTOE)是电驱动系统寿命试验三座大山之一,属于环境可靠性试验。ISO和GB均对此有所定义,但是\"大众这些标准能否覆盖整车寿命?\"大众,\公众整车寿命与HTOE又是如何等效的?\公众,值得我们磋商。
\"大众GBT18488和ISO16750/19453高温运行耐久试验能不能覆盖整车寿命?\"大众目前行业内关于高温运行耐久试验,紧张参考以下三个标准:GB/T-18488, ISO-16750和 ISO-19453。
GB/T 18488
GB/T 18488.1和 GB/T 18488.2中关于高温运行试验的描述分别如下:
划重点:电机+电控,额定工况下,55℃,持续2h,通冷却水, 复测绝缘电阻 。可以看出,HTOE紧张是面向电机+电控的寿命测试,这从侧面反响出电机电控的温度敏感性,个中绝缘电阻是该试验关键考察项,这是由于 高温加速了绝缘老化。(#关于绝缘电阻的测试标准解读和拓展,后续会专题先容,这里先做个预报#)
但是由于工况定义与整车全寿命相距甚远,不适用于寿命考察,这里不做推举。
ISO16750/ISO19453
ISO16750-4 5.1.2.2 和ISO19453 5.1.2.2中关于高温运行试验的哀求类似,详细描述如下:
个中,关于mode 3.2的描述如下:
个中,关于Class A的描述如下:
划重点:额定工况,最高温度,持续96h。
那么问题来了: ISO16750和ISO19453 能否覆盖整车的工况和寿命需求?答: 从目前理解信息来看,两标准虽较GB/T 18488有所强化, 但是仍不敷以表征整车高温耐久寿命。详细缘故原由见后续剖析。
那么 , ”究竟要如何对高温运行耐久进行定义,可以等效整车全生命周期呢? “
\"大众怎么定义高温运行耐久试验,以等效于整车全生命周期?\"大众整车生命周期和负荷哀求
在回答这个问题之前,首先对高温运行耐久的目的、范围和工具做下解读。
高温运行耐久试验,顾名思义,目的是为了验证电驱动系统和零部件在全寿命中的服役情形。因此,在设计试验之前,要从整车角度,明确产品寿命周期、负荷类型,紧张有以下几方面:
1)寿命里程,如10年30万公里
2)路谱信息:工况哀求及对应的韶光和循环数,据此打算得到总的运行韶光,一样平常为7000~10000h
3)温度谱信息:一样平常来自整车输入,或者参考标准根据安装位置进行定义,下图为示意解释;
根据上述信息,我们对EDS在全寿命中的服役环境和周期有了初步定义,但是台架不可能实行全寿命的加载测试。因此,为了提高试验效率、降落韶光和用度的本钱,我们引入适用于高温耐久试验的加速模型:Arrhenius模型。
Arrhenius 模型
打算公式如下:
个中:
T_Test指的是台架试验定义的温度,常日为了达到最快的加速效果且不会发生降额或者破坏,会选择温度谱中的最高温度;T_Field,i 是温度谱上的不同温度;E_A是失落效反应活化能,一样平常为0.45eV;K为玻尔兹曼常数,常日为8.617e-5 eV/KA_T,i是每个温度点下的加速因子,比如A_T,1算下来是5000,对应温度谱第一行-40℃工况下,其在台架上T_Test温度下的等效运行韶光为7000~10000/5000个小时。综上,总的加速因子打算公式如下:
个中:
t_oper.指的是整车定义的总的运行韶光,即上述提到的10950h;p_i 是各温度点下的工况占比情形,如-40℃占比6%;t_test 是根据加速因子和温度谱中的工况占比,加速后的总试验韶光。HTOE试验设计
假设整车寿命10年30万公里,全寿命内运行韶光为8000h,三合一总成的温度负荷信息如上述所示,测试在环境温度100℃下开展。根据Arrhenius模型,可以打算得到如下高温运行耐久试验时长为1381h,在II.c和II.a两种事情模式交替实行,其持续韶光分别为47h和1h,详细测试循环曲线如下图所示(放大查看):
个中, II.a 代表被测样件不带载事情,II.c代表被测样件带载事情。
须要把稳的是,全体HTOE运行过程中,HVDC端电压可以参考“30%最高电压/40%额定电压/30%最低电压”的比重进行进行分配。
综上,导语中的问题有了答案:
1)GB18488和ISO16750/ISO19453标准中对高温运行耐久的定义不能覆盖整车全寿命;
2)可以依据整车生命周期和负荷哀求,通过Arrhenius模型对高温耐久加速,完成HTOE试验的等效设计。
关于”高温运行耐久“的展望关于高温运行耐久试验中的运用,可以从以下几方面做下展望:
1)建议将Arrhenius模型或其他模型作为标准附录哀求,支持有自主能力的整车折算适宜自己的HTOE耐久试验。
2)HTOE试验中的 台架测试温度 如何定义更为合理?
3)关于HTOE试验中的 加 载工况II.c 如何定义更为合理?
4)若将DCDC继续于MCU中,全寿命中的运行韶光是否还要考虑其他工况,如 充电或 联网放电 所用韶光?
5)当前对电驱动系统的 温度谱的定义 是否考虑充分?
写在末了:关于“展望”中提及的几点内容,也是原来想写的,但是短短两千字篇幅无法把这些内容讲清楚,这里先做个引子,我们后续补充,感谢大家的关注。
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