电源芯片的静态功耗是什么该若何测试静态功耗？

芯片静态功耗是什么？

芯片的静态功耗也叫做芯片静态电流，它是芯片测试中的非常主要的指标之一，可以直接决定芯片的整体花费与事情效率，过大的静态电流会导致芯片效率低下，减少芯片的利用寿命同时影响芯片的整体性能，因此对付同一款芯片来说静态功耗越小，芯片的质量测越好。

电源芯片测试

芯片静态功耗如何产生？

芯片静态功耗是由芯片内部的晶体管的泄电流和互偶效应等成分共同影响而产生的。
当晶体管关闭时，泄电流仍旧存在，这便是造成静态功耗的紧张缘故原由。
此外，芯片内部的不同模块之间交互浸染也会导致静态功耗的增加。

芯片静态功耗的大小由什么影响？

芯片静态功耗的大小是由制造工艺、器件参数以及芯片构造等成分综合决定的。
制造工艺的不同会导致晶体管的大小和电流特性的差异，从而影响芯片的静态功耗。
为了减小芯片的静态功耗，常日可以通过采取CMOS工艺进行制造、优化芯片设计布局、减少晶体管利用数量等方法。

芯片测试系统

如何测试芯片静态功耗？

目前市场上的丈量方法是手动丈量采集芯片的电压和电流，然后得出芯片的均匀功耗或者静态功耗。
不过这种测试方法只能针对小批量同规格的芯片，由于手动测试中的采集电路精度不足高，人为采集会涌现错漏等缘故原由，会产生一定的测试偏差，导致测试结果均为均匀值或估值。

以是对付大批量测试和哀求精度高的企业来说还是须要自动的芯片测试系统，如纳米软件的ATECLOUD-IC芯片测试系统只需将测试仪器和芯片连接好之后，运行软件即可完成静态功耗的丈量，不同参数的配置与仪器操作完备由软件完成，无需人工修正参数与读取记录数据，可以一次对多个芯片进行同时丈量，测试的效率与精度比较与手动测试来说有极大的提升。
此外数据自动采集与剖析功能，也可以免去人工纸质报告的记录与剖析，避免涌现人工错漏，也极大的减少了人力与韶光本钱，从而提升企业的核心竞争力。