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首饰头饰发卡三维扫描逆向建模尺寸检测分析

编辑:[db:作者] 时间:2024-08-25 05:21:13

案例详情

扫描工具:

扫描目的:获取首饰部件的三维信息,并对其进行数据剖析供应数据。

首饰头饰发卡三维扫描逆向建模尺寸检测分析

目前客户检测方案:通过传统丈量工具(比如千分尺)进行干系数据尺寸的提取。

原有方案的弊端:数据提取周期长,同时存在不少人为偏差,从而影响后续的加工工艺(比如镶嵌等)。

中科院广州电子手持式三维扫描系统合营中科院检测比拟剖析软件平台对首饰头饰发卡进行三维扫描及检测剖析;可以快速地对发卡进行检测剖析,并出具直不雅观的数据剖析报告。

采取设备仪器:手持式激光三维扫描仪

运用中科院广州电子手持式激光三维扫描仪扫描首饰头饰发卡流程大略、易于操作、可十分快速地对获取部件的三维构造,详细步骤如下:

(1)直接扫描,用手持式激光三维扫描仪对工件进行扫描,内容包括工件的型面、边界等。

(2)扫描数据预处理。
对扫描数据进行去除噪音等处理。

(3)通过扫描数据,运用中科院广州电子的检测剖析软件平台,直接对表面进行情形剖析,结果直不雅观的呈现在我们的面前。

通过利用中科院广州电子技能有限公司手持式激光三维扫描仪,可以直接快速的对首饰发卡表面进行扫描,完成扫描只须要2分钟;我们即可得到首饰发卡的三维数据情形。
客户可以根据获取的高精度三维模型进行后续镶嵌工艺流程,减少镶嵌事情中的重复操作。

通过我们中科院广州电子技能有限公司供应手持式激光三维扫描技能智能平台方案,客户可以在几分钟内进行首饰产品的三维构造获取,为打造制作一款新颖的首饰产品供应更好的创意设计理念。

联系办法:13802418371(微信同号)

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