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天准科技申请全尺寸量检测设备及全尺寸量检测方法专利提高了集成度和效率

编辑:[db:作者] 时间:2024-08-24 23:34:39

专利择要显示,本发明供应了一种全尺寸量检测设备及全尺寸量检测方法,属于量检测领域,全尺寸量检测设备包括附近设置的高下料站和量检测站;高下料站用于向量检测站供料并按类吸收量检测好的产品;量检测站包括上料皮带线模组、移载治具侧边激光丈量模组、底部相机组件、PPG丈量模组、上面激光丈量模组、OMM丈量模组、底部激光丈量模组、中转搬运模组和下料皮带线模组;上料皮带线模组对移载治具侧边激光丈量模组两端供料;全尺寸量检测方法方法包括上料,全尺寸量检测,测厚和分选下料;本申请的检测设备集成了包括侧边、厚度、双面量检测,且一线双料同步进行,提高了集成度和效率,便于在3C等高精度大批量产品零部件的运用。

天准科技申请全尺寸量检测设备及全尺寸量检测方法专利提高了集成度和效率

本文源自金融界

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